跌落测试
跌落测试
跌落高度、跌落次数以及跌落方向对试验反映试验严格程度。对于不同的产品国际标准规范的跌落方式和跌落高度要求不同。对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。
根据参考标准，跌落面为混凝土或者钢制的平滑、坚硬的刚性表面，或者必要时候为其他地面，如大理石地面等。
包装跌落测试
包装跌落测试一般要求，跌落方式为一角三边六面自由跌落。
角跌落：跌落后，测试角撞击接触平面;
边跌落：将样板底面倾斜致水平20°角，然后将其抬高至测试高度再跌落，其边撞击接触平面;
面跌落：需使测试样板跌落后其平面直接撞击接触平面。
包装跌落测定外箱或内盒之强度及产品包装之牢固性等方面是否符合品质要求。
测试标准
GB/T2423.8《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ed：自由跌落》。
IEC60068-2-32《自由跌落试验方法》。
GB-T4857.5包装运输包装件跌落试验方法。
ASTM D 5276-98(2009)
微跌落试验
使用双工位微跌落试验可以对微小电子产品进行部分可靠性功能测试，微跌落试验采用气动治具夹持测试产品，电机驱动上升到设定的跌落高度，模拟产品往复跌落测试。
适用范围
微跌落试验适用于手机、POS机、平板电脑、蓝牙音箱、电话机听筒、对讲机、U盘、学习机等小型电子消费类产品的能够满足样品棱、角、面的跌落测试，可实现自动手动功能。
试验原理
先把产品如手机放入到跌落夹具内，调整好合适的大小位置，步进电机带动真空吸盘将手机吸住，上升后松开吸盘，手机成自由跌落运动，如此反复直至设定次数。
裸机跌落测试
裸机跌落测试的目的
裸机跌落测试是为了检测产品在使用的过程中,抵抗投掷、跌落的能力。释放试验样品的方法应使试验样品从悬挂着的位置自由跌落，释放时，要使干扰最小。
· ASTM标准测试仪器要求：投掷地面需盖有3.0mm(1/8in)厚胶地板，最少有64mm(2.5in)厚混凝土，且面积不少于3㎡。
· EN71标准测试仪器要求：投掷地面为铺有4mm厚的钢板，钢板表面应涂有2mm厚、肖氏硬度为75±5A的覆盖层，并放置在一非柔性的水平表面上。
· GB6675标准测试仪器要求：撞击面应由额定厚度约3mm的乙烯基聚合物片材组成，乙烯基聚合物片材附着在至少64mm厚的混凝土上，盖表面应达到肖氏硬度A80度士10度，面积至少0.3㎡。
测试方式
定向跌落、自由跌落、重复跌落、滚筒跌落四种跌落方式。
试验产品如手机，样品机插SIM 卡，并装配电池，手机处于正常工作状态。将样品放置在垂直跌落试验仪上，将高度调到 1.0m ，进行垂直跌落测试。每个面各测 2 次，共跌落12 次。跌落测试后，首先对样品进行外观、功能，结构检测，记录测试状态后，再进行拆机检测。
试验样机插SIM 卡，并装配电池，手机处于正常工作状态。 将样品放置在 0.5m 的滚筒跌落试验机中，进行跌落测试，每 50 次对手机的外观，功能，结构做检测，累计跌落300 次循环。 测试完成后，对手机进行功能，结构，装配检测(要求必须拆机检查)。
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